题目

质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图 质谱仪是一种测定带电粒子质...
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图
质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示,离子源S产生的各种不同正离子束(速度可看作为零),经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场,到达记录它的照相底片P上,设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x.第一问求该离子的比荷q比m多大?第二问若离子源产生的是带电荷量为q质量为m1和m2的同位素离子（m1大于m2）他们分别到达照相底片上p1,p2位置（图中未画出）求p1p2间的距离的他x

提问时间：2021-03-13

答案

没有图,我按照我自己理解,是不是粒子进入磁场后走了一个半圆然后打在底片上,如果这样,则第一问实际上就是利用2R=X,然后利用半径公式以及加速电场等条件代入,就可以求出比荷.第二问类似,比荷不同,半径不同.